АКУСТИКАЛЫК ЭЛЕКТР ЭФФЕКТИ: нускалардын айырмасы
Навигацияга өтүү
Издөөгө өтүү
imported>Kadyrm м (1 revision imported) |
imported>Dilde No edit summary |
||
| 1 сап: | 1 сап: | ||
‒ ток өткөрүүчү чөйрөлөрдө (металл, жарым өткөргүч) таралуучу ультраүн толкундарынын эсебинен турактуу электр тогунун пайда болушу. Ал ультраүн толкун энергиясы ж-а импульсу чөйрөнүн өткөрүмдүүлүк электрондоруна берилишине байланыштуу. Бул учурда үндүн таралуу багытына туура келген электрондордун иреттелген кыймылы пайда болот. Жөнөкөй жарым өткөргүчтөрдө ж-а металлдарда А. э. э. анчалык күчтүү эмес, ал эми пьезожарым өткөргүчтөрдө (СdS, CdSe) эффект абдан күчтүү болот. Ошондуктан ал катуу нерселердеги ультраүндүн ургаалдуулугун өлчөөдө, жарым өткөргүчтөрдүн электрдик касиеттерин изилдөөдө колдонулат.<br> | '''АКУСТИКАЛЫК ЭЛЕКТР ЭФФЕКТИ''' ‒ ток өткөрүүчү чөйрөлөрдө (металл, жарым өткөргүч) таралуучу ультраүн толкундарынын эсебинен турактуу электр тогунун пайда болушу. Ал ультраүн толкун энергиясы ж-а импульсу чөйрөнүн өткөрүмдүүлүк электрондоруна берилишине байланыштуу. Бул учурда үндүн таралуу багытына туура келген электрондордун иреттелген кыймылы пайда болот. Жөнөкөй жарым өткөргүчтөрдө ж-а металлдарда А. э. э. анчалык күчтүү эмес, ал эми пьезожарым өткөргүчтөрдө (СdS, CdSe) эффект абдан күчтүү болот. Ошондуктан ал катуу нерселердеги ультраүндүн ургаалдуулугун өлчөөдө, жарым өткөргүчтөрдүн электрдик касиеттерин изилдөөдө колдонулат.<br> | ||
04:54, 31 Октябрь (Тогуздун айы) 2022 -деги абалы
АКУСТИКАЛЫК ЭЛЕКТР ЭФФЕКТИ ‒ ток өткөрүүчү чөйрөлөрдө (металл, жарым өткөргүч) таралуучу ультраүн толкундарынын эсебинен турактуу электр тогунун пайда болушу. Ал ультраүн толкун энергиясы ж-а импульсу чөйрөнүн өткөрүмдүүлүк электрондоруна берилишине байланыштуу. Бул учурда үндүн таралуу багытына туура келген электрондордун иреттелген кыймылы пайда болот. Жөнөкөй жарым өткөргүчтөрдө ж-а металлдарда А. э. э. анчалык күчтүү эмес, ал эми пьезожарым өткөргүчтөрдө (СdS, CdSe) эффект абдан күчтүү болот. Ошондуктан ал катуу нерселердеги ультраүндүн ургаалдуулугун өлчөөдө, жарым өткөргүчтөрдүн электрдик касиеттерин изилдөөдө колдонулат.